September 10, 2021
Cara menguji ketebalan lapisan suhu tinggi dengan probe 300 derajat celsius
TG-6102 adalah pengukur ketebalan lapisan portabel Bluetooth yang dirancang untuk pengukuran ketebalan lapisan yang tidak merusak, cepat dan tepat.Aplikasi utama terletak di bidang perlindungan korosi.Ini sangat ideal untuk manufaktur dan pelanggan mereka, untuk kantor dan penasihat spesialis, untuk toko cat dan elektroplater, untuk industri kimia, mobil, pembuatan kapal dan pesawat terbang dan untuk teknik ringan dan berat.
TG-6102 dapat mengujiuji ketebalan lapisan suhu tinggi dengan 300 derajat celsius probe FH.
Fitur:
Fungsi utama:
Parameter teknik
| Jenis Penyelidikan | F (Magnetik) | N (Non-magnetik) |
| Penggunaan | Lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik | Lapisan non-konduktif pada substrat logam non-magnetik |
| Resolusi | 0,1 um（0 ~ 99,9 um），1um（100 ~ 1500 um） | |
| Mengukur Periode | 3 kali per detik | |
| Mode Kalibrasi | Kalibrasi Nol, Satu Titik, Dua Titik, dan Dasar | |
| Mode Pengukuran | Titik tunggal, mode pemindaian, mode diferensial, mode rata-rata, mode alarm | |
| Menampilkan | Bahasa Inggris, Layar LCD FSTN dengan lampu latar | |
| Tampilkan Konten | Nilai Ketebalan Lapisan, Waktu, Stabilitas, Baterai, Mode Pengukuran, dll. | |
| Penyimpanan | 500 pengukuran, termasuk waktu, jenis probe, dll. | |
| Komunikasi | Antarmuka Bluetooth & Mini-USB, protokol port serial virtual, mendukung pengukuran online dengan PC atau Ponsel Pintar, perangkat lunak host yang dapat diupgrade | |
| Mencetak | Printer termal Bluetooth portabel opsional | |
| Sumber Daya listrik | 3 * baterai alkaline AAA untuk penggunaan 100 jam (close backlight) | |
| Matikan | Matikan waktu habis, dan matikan daya baterai rendah | |
| Suhu | Penggunaan: -10 ~ 50 °C, Simpan: -30 ~ 60 °C | |
| Ukuran | 150mm * 70mm * 30mm | |
| Bahan | Paduan ABS dan PC | |
| Berat | 180g | |
Panduan opsi penyelidikan
| Jenis probe | F (Magnetik) | N (Non-magnetik) | |||||||
| Penggunaan | Lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik | Lapisan non-konduktif pada substrat logam non-magnetik | |||||||
| Model penyelidikan | FM | FL | FX | FT-500 | FS | FH | NM | NL | |
| Rentang pengukuran（μm） | 0 ~ 1500 | 0 ~ 3000 | 0~10000 | 0 ~ 500 | 0 ~ 500 | 0 ~ 3000 | 0 ~ 1500 | 0 ~ 3000 | |
| Akurasi pengukuran（μm） | Kalibrasi dasar | ± (0,5 + 1% H) | ±(1+2% H) | ±(1+3% H) | ± (0,5 + 1% H) | ± (0,5 + 1% H) | ±(1+2% H) | ± (0,5 + 1% H) | ±(1+2% H) |
| Kalibrasi nol | ±(1+2% H) | ±(1+3% H) | ±(2+5%H) | ±(1+2% H) | ±(1+2% H) | ±(1+3% H) | ±(1+2% H) | ±(1+3% H) | |
| min.Jari-jari Kelengkungan | Cembung 1.5mm | Cembung 1.5mm | Cembung 10mm | Cembung 1.5mm | Cembung 1mm | Cembung 1.5mm | cembung 3mm | Cembung 6mm | |
| min.Radius Luas | 7mm | 7mm | 40mm | 3mm | 3mm | 7mm | 5mm | 7mm | |
| Ketebalan Kritis Plat | 0.5mm | 0.5mm | 2mm | 0,3 mm | 0,2 mm | 0,5 mm | 0,3 mm | 1 mm | |
| Suhu permukaan kontak.（°C） | 0 ~ 50 | 0 ~ 50 | 0 ~ 50 | 0 ~ 50 | 0 ~ 50 | 0 ~ 300 | 0 ~ 50 | 0 ~ 50 | |
| Mengukur arah | |||||||||
| Bahan pengujian utama | Lapisan cat, lapisan semprot | Lapisan cat, lapisan semprot |
Lapisan anti korosi, Lapisan perlindungan kebakaran |
Area sempit di dalam pipa | Bagian kecil, pengencang, Lapisan semprot, lapisan cat | 300℃ Lapisan semprot, lapisan cat | Lapisan oksida, lapisan semprot, pelapisan timah tembaga, pelapisan krom | Lapisan semprot, lapisan cat | |
| Deskripsi penyelidikan | Pemeriksaan standar | Probe lebih tebal | Probe lebih tebal | Probe sudut kanan | Penyelidikan mini | Temperatur tinggi.menguji | Penyelidikan normal | Probe lebih tebal | |
