Inbuilt Printer Dry Film Paint Thickness Tester Elcometer Coating Thickness Gauge TG110
TG110 mengukur ketebalan bahan non-magnetik (misalnya cat, plastik, enamel porselen, tembaga, seng, aluminium, krom, dll.) pada bahan magnetik (misalnya besi, nikel, dll.) .sering digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan galvanis, lapisan pernis, lapisan enamel porselen, lapisan fosfida, ubin tembaga, ubin aluminium, beberapa ubin paduan, kertas dll.
Pengukur mengadopsi dua metode pengukuran ketebalan: metode induksi magnetik dan metode arus eddy.
Metode Induksi Magnetik: Probe dan substrat logam magnetik akan membentuk sirkuit magnetik tertutup saat probe bersentuhan dengan lapisan;hambatan magnet dari rangkaian magnet tertutup bervariasi karena adanya lapisan non-magnetik.Ketebalan lapisan dapat diukur melalui variasi tahanan magnet.
Metode arus eddy: Arus bolak-balik frekuensi tinggi menghasilkan medan elektromagnetik dalam kumparan probe;Arus eddy akan terbentuk pada substrat logam ketika probe bersentuhan dengan lapisan, dan arus eddy memiliki efek umpan balik pada kumparan di probe.Ketebalan lapisan dapat dihitung melalui pengukuran efek umpan balik.
Kisaran aplikasi ditunjukkan oleh probe yang tersedia.
-F probe bekerja berdasarkan prinsip induksi magnetik dan harus digunakan untuk pelapis non-magnetik seperti aluminium, krom, tembaga, seng, cat dan pernis, enamel, karet, dll., pada substrat besi atau baja;mereka juga cocok untuk baja magnet paduan dan mengeras.
- Probe N bekerja berdasarkan prinsip arus eddy dan harus digunakan untuk pelapis insulasi pada semua logam non-ferrous dan pada baja tahan karat austenitik, misalnya cat, pelapis anodisasi, keramik, dll. yang diterapkan pada aluminium, tembaga, seng die-casting, kuningan, dll.
Tabel Lampiran 1 Parameter teknis
| Jenis probe | F | n | |
| Prinsip pengukuran | Induksi magnetik | Arus pusar | |
| Rentang pengukuran | 0～1500 um | 0～1500 um | |
| Resolusi rentang rendah | 0,1 um | 0,1 um | |
| Ketepatan | Kalibrasi nol | ±(2%H+1) um | ±(2%H+1) um |
| Kalibrasi dua titik | ±[(1～2)%H+1] um | ±[(1～2)%H+1] um | |
| Mengukur Kondisi | min.radius kelengkungan | Cx.1,5 mm | Cx.3 mm |
| min.radius luas | 7 mm | 5 mm | |
| Ketebalan kritis pelat | 0,5 mm | 0,3 mm | |
Tabel Lampiran 2 Referensi pemilihan probe
Lapisan
Piring | Lapisan non-magnetik dari bahan Organik (Seperti: cat, enamel, plastik, anodizing, dll.) | Lapisan Non-magnetik dari logam Nonferrous (Seperti: Kromium, seng, aluminium, tembaga, timah, perak, dll.) |
| Logam magnetik seperti besi dan baja | probe tipe F Rentang pengukuran: 0μm～1500μm | probe tipe F Rentang pengukuran: 0μm～1500μm |
| Logam nonferrous seperti Tembaga, aluminium, kuningan, seng, timah, dll. | probe tipe N Rentang pengukuran: 0μm～1500μm | probe tipe N Rentang pengukuran: 0μm～40μm (hanya untuk Chromium pada Tembaga) |
Tabel1-1 Konfigurasi
| Barang | Kuantitas | Catatan |
| Unit Utama TG110 | 1 | |
| Menguji | 1 | F atau N atau FN |
| Kalibrasi Foil | 5 buah | |
| Plat nol | 1 | Besi atau Aluminium |
| Baterai | 1 | CR123A, 3V |
| Panduan pengguna | 1 | |
| Sertifikat | 1 | |
| Kartu garansi | 1 | |
| Pengiriman umpan balik | 1 |
