100 Mikron Amorf Silicon A Si Untuk Berbagai Bidang Seperti DR Non Destructive Testing

100 Mikron Amorf Silicon A-Si Untuk Berbagai Bidang Seperti DR Dan Non-Destructive Testing

3025DA-AG adalah detektor berat ringan berdasarkan silikon amorf ((a-Si), yang cocok untuk pengujian Non-destructive.

Sensor
Reseptor tipe a-Si

Scintillator Gos / CsI:TI

Area Aktif 300 x 254 mm

Resolusi 2560 x 3072

Pixel Pitch 100 μm

Pasokan Daya & Baterai

Adaptor dalam AC 100-240V,50-60Hz

Adaptor keluar DC 24V,2.7A

Penghambatan daya < 20 W

Kualitas Gambar
Membatasi Resolusi 3,5 LP/mm

Rentang energi 40-160 KV

Jangkauan Dinamis ≥ 84 dB

Sensitivitas ≥ 0,54 LSB/nGy

Ghos < 1% frame pertama

DQE 42% @(1 LP/mm)

28% @ ((2 LP/mm)

MTF 68% @(1 LP/mm)

38% @ ((2 LP/mm)

20% @ ((3 LP/mm)

Perangkat listrik dan antarmuka
Konversi A/D 16 bit

Antarmuka Data Gigabit Ethernet

Frame rate 1x1 5fps/2x2 15fps/3x3 25fps

Eksposure Control Free Run/SYNC Acquire

Mesin
Dimensi 384 × 460 × 14,8 mm
Berat 3,4kg

Bahan Paduan aluminium dan magnesium

Panel depan Serat karbon

Lingkungan

Suhu 10-35°C (operasi);-10~50°C (penyimpanan)

Kelembaban 30-70% RH (tidak kondensasi)

Perlindungan Penembusan IP51