Portabel Multifungsi Ndt Magnetic Partikel Pengujian Efek Demagnetisasi Dapat Disesuaikan Saat Ini

Efek Demagnetisasi yang Dapat Disesuaikan Saat Ini, Multifungsi Portabel, Pengujian Partikel Magnetik Ndt

Pengantar singkat:

Detektor cacat bubuk magnetik komposit HCDX-IISC mengadopsi sakelar tanpa kontak yang dikendalikan silikon, dengan kebisingan rendah, gaya magnet yang kuat, masa pakai yang lama dan operasi sederhana, cocok untuk penggunaan lapangan dan laboratorium.Instrumen mengadopsi konfigurasi gabungan, dan pengguna dapat memilih probe secara bebas sesuai dengan kebutuhan mereka.Jenis A, D, E, O probe dapat dikonfigurasi sesuai dengan kebutuhan pengguna.

Seri HCDX-IISC memiliki fungsi demagnetisasi, dan dapat disesuaikan saat ini.

8-bit MCU diadopsi sebagai pengontrol oleh detektor cacat partikel magnetik ini (dengan sirkuit yang dikendalikan fase), dan pengaturan arus magnetisasi yang berkelanjutan dapat diwujudkan melalui pengumpulan yang tepat dari sinyal persimpangan tegangan nol AC dan sinyal pengaturan arus .Selain itu, dilengkapi dengan fungsi demagnetisasi;fungsi demagnetisasi dapat diaktifkan setelah memilih mode demagnetisasi dan menekan tombol pemicu.Selain itu, program MCU dapat menikmati peningkatan gratis seumur hidup, dan probe tipe A, D, E, O dapat dikonfigurasi sesuai dengan kebutuhan pengguna.

Detektor cacat partikel magnetik adalah peralatan pengujian tak rusak untuk cacat retak permukaan dan dekat permukaan dari semua jenis bagian feromagnetik.

Detektor cacat partikel magnetik dapat mendeteksi bagian dengan cacat retak tersembunyi di bawah premis tidak menghancurkan bahan bagian yang terdeteksi dan tidak mempengaruhi kinerja bagian yang terdeteksi.Ini adalah peralatan pengujian kualitas yang penting untuk kontrol kualitas produk dari perusahaan manufaktur suku cadang.

Pentingnya detektor cacat partikel magnetik

1, dapat menemukan cacat tersembunyi dari bahan baku feromagnetik, untuk menghindari hilangnya biaya pemrosesan suku cadang;

2. Cacat resesif bagian feromagnetik dapat ditemukan untuk menghindari terjadinya kecelakaan keselamatan;

3, dapat menemukan cacat proses dalam proses pemrosesan bagian feromagnetik, meningkatkan teknologi pemrosesan;

4. Retak kelelahan di zona konsentrasi tegangan bagian feromagnetik dapat ditemukan untuk meningkatkan proses desain.

Aplikasi:

Terutama digunakan untuk mendeteksi retak permukaan dan dekat permukaan benda kerja feromagnetik.

Bejana tekan boiler, struktur baja, tempa, coran, bagian pengelasan, bagian mesin, dll.

Pengenalan probe standar untuk model HCDX-IISC:

Probe tipe D (probe kuk elektromagnetik): dilengkapi dengan sambungan yang dapat digerakkan, dapat menarik dan mendeteksi benda kerja permukaan.

Probe tipe A (probe tapal kuda): cocok untuk semua jenis las fillet, benda kerja besar di dalam dan di luar sudut inspeksi magnetisasi lokal, dilengkapi dengan lampu kerja.

Probe tipe O (kumparan tipe cincin): cocok untuk deteksi retak melingkar benda kerja, dan sangat sensitif terhadap retak yang disebabkan oleh kelelahan benda kerja.Selain itu, dapat mendemagnetisasi benda kerja dengan metode jarak jauh.

Probe tipe E (probe medan magnet berputar): melakukan deteksi cacat menyeluruh untuk semua jenis las lurus, las lingkar, las butt dan bidang dan permukaan melengkung dengan bentuk geometris yang besar.Probe dilengkapi dengan roller, yang memfasilitasi operasi dan meningkatkan kecepatan.Probe dilengkapi dengan lampu kerja untuk memudahkan pengamatan.

Parameter teknik:

Catu daya: AC 220V ± 10% 50HZ 5A

Keluaran: AC 38V 10A

Jenis probe ADEO adalah opsional dan tersedia

Kecepatan inspeksi: 6 m / mnt

Kenaikan suhu probe: 60℃

Ketukan kerja: disarankan untuk bekerja dalam waktu lama untuk operasi terus menerus: waktu magnetisasi 3 detik, waktu jeda 5 detik

Berat: sekitar 6.5Kg (unit utama)

Ukuran pengontrol: 95x45x75mm (L * W * H)

Ukuran tas jinjing: 170x140x70mm (L*W*H)

Semua parameter probe opsional:

Pengiriman standar:

Tuan rumah HCDX-IISC 1

Tipe D kuk probe 1

Tipe A probe 1

Tipe E probe 1

Tipe O probe 1

Saluran listrik 1

Jalur probe 1

Spesimen standar 1

Petunjuk pengoperasian 1

Sertifikat 1

Aksesoris opsional:

Tipe A probe

Oh probe

E penyelidikan

D penyelidikan

Berat mati

Spesimen uji

sinar UV